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7. Qual técnica de análise de superfície utiliza um feixe de íons para esculpir a superfície da amostra e analisar as camadas subsequent OA) Microscopia de Força Atómica (AFM) B) Espectroscopia de Fotoelétrons por Raios X (XPS) C) Espectrometria de Massa de fons Secundários (SIMS) D) Microscopia Eletrônica de Varredura (SEM)
Sagot :
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